Нано- и микросистемная техника
Русский
ЕЖЕМЕСЯЧНЫЙ МЕЖДИСЦИПЛИНАРНЫЙ ТЕОРЕТИЧЕСКИЙ И ПРИКЛАДНОЙ НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ
English
Содержание
Архив статей с 1999 г.
Поиск аннотаций и статей
Цели и задачи
Разделы
Ред. коллегия
Учредители
Подписка
Авторам
Этические нормы
Рецензирование
Обучение по НМСТ
Литература по МСТ
Полезные ссылки
Адрес редакции


Сделать стартовой
В избранное

Издательство "Новые технологии"
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный институт радиотехники, электроники и автоматики (технический университет)"
Институт сверхвысокочастотной полупроводниковой электроники РАН
Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина) СПбГЭТУ «ЛЭТИ»
Южный федеральный университет
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники».
НПК «Технологический центр»
Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина
Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники
Казанский (Приволжский) федеральный университет
Новосибирский государственный технический университет
Сибирский федеральный университет
Пермский государственный национальный исследовательский университет
Дагестанский государственный технический университет
Конференции

Уважаемые коллеги!

Модуль А4, для печати

В период с 1 по 3 декабря 2020 года на ВДНХ в павильоне №55 состоится 16-й Московский международный инновационный форум-выставка «Точные измерения – основа качества и безопасности» (MetrolExpo-2020), которые проводятся ежегодно при содействии Аппарата Правительства Российской Федерации (письмо от 30 января 2020 № 636п-П7).

Мероприятие проходит при поддержке Министерства промышленности и торговли Российской Федерации, Министерства энергетики Российской Федерации (письмо от 05 марта 2020 № ЕГ-2485/10), Всероссийской организации качества, Лазерной ассоциации, Ассоциации «Лига содействия оборонным предприятиям» и Союза машиностроителей России и патронажем Торгово-Промышленной Палаты Российской Федерации.

NEW! В этом году проведение выставки запланировано в гибридном формате, объединяющем традиционную (офлайн) выставку на физической площадке и выставку на онлайн-платформе в виртуальной среде. Последняя является новым трендом в развитии конгрессно-выставочной деятельности, позволяющей использовать самые передовые IT-технологии и цифровизацию бизнес-процессов. Такая синергия форматов позволит повысить качество мероприятия и увеличить охват аудитории.

Выставка «Точные измерения – основа качества и безопасности» 2020 года - это коммуникационная площадка для выработки решений направленных на создание условий для развития отечественного приборостроения, оптоэлектронных технологий (фотоники), конкурентоспособной электронной и радиоэлектронной промышленности, на основе оптимизации производственных мощностей, их модернизации и технического перевооружения, создания новых технологических направлений и технологий, освоения прорывных промышленных электронных и измерительных технологий, а также совершенствования нормативно-правовой базы для удовлетворения потребностей государства и общества современной продукцией.

В предыдущие годы Форум и Выставка фокусировались в основном на метрологии, на задачах обеспечения единства измерений, развития нормативно-методической базы. В 2020 году организаторы делают акцент на приборостроении – демонстрации и обсуждении возможностей современной измерительной техники, анализе появившихся в последние годы новых методов и технологий точных измерений. На выставке будут продемонстрированы новейшие инжиниринговые разработки, приборы и системы для проведения измерений, испытаний, технической диагностики, аналитических исследований, производственного и функционального контроля от крупнейших российских и зарубежных производителей.

Участие организаций и предприятий в выставочно-конгрессных мероприятиях позволит наглядно продемонстрировать потенциал российской промышленности, определить перспективы дальнейшего развития и продвижения новейших образцов приборов и оборудования на внутренний и внешний рынки, укрепить научно-техническое и деловое сотрудничество.

РАЗДЕЛЫ ВЫСТАВКИ:

  • ИЗМЕРЕНИЯ / MEASUREMENTS
  • ИСПЫТАНИЯ и АНАЛИТИКА / TESTING & ANALYTICS
  • ДИАГНОСТИКА И КОНТРОЛЬ / DIAGNOSTICS & CONTROL
  • АВТОМАТИЗАЦИЯ / PROMAUTOMATICS
  • ПРИБОРОСТРОЕНИЕ / INSTRUMENT MAKING
  • МЕТРОЛОГИЯ / METROLOGY

КОНКУРСНАЯ ПРОГРАММА:

Всероссийская выставочно-конкурсная программа «За единство измерений», которая проводится на базе испытательного центра ФБУ «Ростест-Москва» с присуждением Знаков Качества и Золотых медалей выставки. Основная цель конкурса – аттестация приборов и оборудования, относящихся к различным средствам измерений, испытаний, диагностики и контроля, на соответствие их высоким метрологическим характеристикам и качеству, а также награждение наиболее актуальных выставочных экспозиций и активных участников деловой программы выставки.

ДЕЛОВАЯ ПРОГРАММА:

Всероссийская научно-практическая конференция «Точные измерения – основа качества и безопасности». Проводится в поддержку мероприятий по реализации государственных программ развития науки и инновационных технологий, промышленности и повышение её конкурентоспособности на международных рынках. Обзор текущей ситуации, меры государственной поддержки, существующие сложности, изменения в законодательстве, прогнозы развития, высокотехнологичные средства производства, инновационный потенциал.

Специализированные секции и круглые столы:

  • Перспективы развития приборостроительного рынка и механизмы поддержки инноваций;
  • Обзор основных изменений «Общие требования к компетентности испытательных центров и калибровочных лабораторий»;
  • Технологичность и компетентность основные принципы развития национальной системы аккредитации. Применение современных технологий и методик;
  • Особенности импорта и экспорта измерительной техники при освоении внешних рынков и меры государственной поддержки экспортоориентированных предприятий;
  • Актуальные вопросы метрологического обеспечения действующей испытательной базы и её развитие в соответствии с задачами испытаний нового поколения техники и автоматизированных систем контроля и диагностирования;
  • Фотонные технологии в приборостроении и информационных системах (фотоника, лазеры, оптоэлектроника, волоконная оптика и оптическая связь);
  • «Индустрия 4:0» Аддитивные технологии и 3D-печать;
  • Современные средства измерений и контроля в промышленности и энергетике;
  • Перспективные направления в микро- и радиоэлектроники (реализация стратегии развития электронной промышленности России до 2030 года);
  • Авиационная метрология. Вопросы разработки и эксплуатации;
  • Метрологическое обеспечение предприятий ОПК;
  • Связь и Навигация. Состояние. Проблемы. Перспективы;
  • Инновационные технологии (AI, Industrial Internet of Things, IIoT, robotics,VR/ AR).

ЦЕЛЕВАЯ АУДИТОРИЯ ВЫСТАВКИ:

  • Руководители предприятий и специалисты инженерно-технических служб, ответственных за инновационное развитие и обеспечение высокоэффективной деятельности производства и повышение качества выпускаемой продукции;
  • Инженеры и научные работники научно-исследовательских организаций и опытно-конструкторских подразделений;
  • Главные инженеры, технологи, энергетики, метрологи, руководители менеджмента качества, начальники испытательных центров и лабораторий;
  • Руководители отделов и специалисты, работающие в области разработки, монтажа, наладки, эксплуатации средств КИПиА, телемеханики и АСУТП.

ОТРАСЛЕВАЯ ПРИНАДЛЕЖНОСТЬ ПРЕДПРИЯТИЙ И КОМПАНИЙ:

  • Машиностроение
  • Оборонно-промышленный комплекс
  • Космическая промышленность
  • Гражданская и военная авиация
  • Атомная энергетика
  • Топливно-энергетический комплекс
  • Автомобильный и железнодорожный транспорт
  • Радиоэлектронная промышленность
  • Информационные технологии
  • Нанотехнологии
  • Химия и нефтехимия
  • Наука и образование
  • Геодезия и картография
  • Безопасность государства/Спецслужбы
  • Природные ресурсы и экология

ЦИФРЫ И ФАКТЫ 2019:

  • Общая выставочная площадь: 6 500 м2
  • Участники выставки: 256 компаний
  • Количество посетителей: 4 870 человек
  • Количество участников конференции: 1 100 человек

ПРИГЛАШАЕМ ПРИНЯТЬ УЧАСТИЕ!

Для получения более детальной информации о формах и условиях участия, необходимо обратиться в Дирекцию выставки по указанным ниже контактам.

ДИРЕКЦИЯ:
ООО «Вэстстрой Экспо»

www.metrol.expoprom.ru
+7 (495) 937-40-23
metrol@expoprom.ru
metrolexpo@yandex.ru

Новости
Авторам и подписчикам журнала «Нано- и микросистемная техника»
Подписчикам журнала «Нано- и микросистемная техника»
Журнал НМСТ включен в международную базу и Перечень ВАК.
Журнал НМСТ включен в Web of Science
Микроэлектроника 2019
<-- Архив новостей -->

Конференции
16-й Московский международный инновационный форум-выставка «Точные измерения – основа качества и безопасности» (MetrolExpo-2020)
Международный форум «Микроэлектроника 2020» - зеркало новых возможностей и путей развития радиоэлектронной промышленности
МЭС-2020. Всероссийская научно-техническая конференция "Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем".
16-й Московский международный форум и выставка «Точные измерения – основа качества и безопасности»
Международный форум «Микроэлектроника 2019»
Международный научно-технический семинар Генерация и Синтез Частот и Сигналов ГСЧС-2019
IV Международная научно-практическая конференция «Актуальные проблемы и перспективы развития радиотехнических и инфокоммуникационных систем «РАДИОИНФОКОМ-2019»
Международный форум «Микроэлектроника 2019»
XIV Российская конференция по физике полупроводников
Силовая Электроника 2019: открыт приём заявок на участие в конкурсе
XVIII Российской конференция «Электроника, микро - и наноэлектроника - 2019»
14-я Международная конференция «ПЛЕНКИ И ПОКРЫТИЯ – 2019»
Выставка VacuumTechExpo
XXIII Международный симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника»
6-я международная научно-техническая конференция «Технологии микро- и наноэлектроники в микро- и наносистемной технике».
МЕЖДУНАРОДНЫЙ ФОРУМ МИКРОЭЛЕКТРОНИКА 2018
9-ая Международная Научно-практическая конференция по физике и технологии наногетероструктурной СВЧ- электроники «МОКЕРОВСКИЕ ЧТЕНИЯ»
<-- Архив конференций -->

Российская академия наук



  © 1999-2020 "Нано - и микросистемная техника".