Нано- и микросистемная техника
Русский
МЕЖДИСЦИПЛИНАРНЫЙ ТЕОРЕТИЧЕСКИЙ И ПРИКЛАДНОЙ НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ЖУРНАЛ
English
Содержание
Архив статей с 1999 г.
Поиск аннотаций и статей
Цели и задачи
Разделы
Ред. коллегия
Учредители
Подписка
Авторам
Этические нормы
Рецензирование
Обучение по НМСТ
Литература по МСТ
Полезные ссылки
Адрес редакции


Сделать стартовой
В избранное

Издательство "Новые технологии"
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный институт радиотехники, электроники и автоматики (технический университет)"
Институт сверхвысокочастотной полупроводниковой электроники РАН
Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина) СПбГЭТУ «ЛЭТИ»
Южный федеральный университет
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники».
НПК «Технологический центр»
Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина
Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники
Казанский (Приволжский) федеральный университет
Новосибирский государственный технический университет
Сибирский федеральный университет
Пермский государственный национальный исследовательский университет
Дагестанский государственный технический университет
Конференции

ИТОГОВЫЙ ПОСТ-РЕЛИЗ

В период с 18 по 20 октября 2021 года в Москве в ЦВК «Экспоцентр» состоялась 17-я специализированная выставка «Точные измерения – основа качества и безопасности / MetrolExpo’2021», которая проводится ежегодно в соответствии с распоряжением Правительства Российской Федерации №541-р от 5 апреля 2014 года.

В текущем году мероприятие проходило в рамках Российской промышленной недели – многоотраслевой бизнес-площадки федерального масштаба, которая объединяет ведущие промышленные отрасли экономики России.

Основная тематика выставки:
- Измерения;
- Метрология;
- Испытания и Аналитика;
- Диагностика и Контроль;
- Промышленная автоматизация.

Новейшие инжиниринговые разработки, приборы и системы для проведения измерений, испытаний, аналитических исследований, производственного и функционального контроля, метрологического обеспечения представили крупнейшие отечественные и мировые производители и дистрибьюторы.

Всего в выставке приняли участие 42 компании из 5-и стран мира (Россия, США, Германия, Китай, Беларусь) и 17 регионов России.

Среди участников выставки – лидеры российского сегмента рынка измерительной техники: Keysight Technologies, Диполь НПФ, Artvik, Тэсто Рус, Политехник БНТУ, Глобал Медикал Трейд, Микран НПФ, Микро ИМЦ, МРУ Рус, Прибор НТЦ, Прогресс НПК, Смоленское СКТБ СПУ, СКАТ ЗПО, СОНЭЛ, А3 Инжиниринг, Импульс Девайс, Профкип, АСВ56, ЮНИТЕСС, Палитра Систем, Поверь.ру, Наносертифика, Стройприбор КТБ, Метрологическая лаборатория, ЭЛТА, Экофизприбор НТЦ, RFLIGHT, Поинт, Теккноу, Диагностика НПК, НИИЭМП, Взлет, Институт физики Земли РАН, СТЛ и др.

Всего на выставку зарегистрировалось 1.746 специалистов из 22 регионов России.

В адрес участников, гостей и организаторов Российской промышленной недели направил приветственное послание Министр промышленности и торговли Денис Валентинович Мантуров. В послании было отмечено, что Минпромторг России традиционно поддерживает проведение этого масштабного отраслевого выставочно-конгрессного проекта, объединяющего целый ряд промышленных мероприятий. Министр пожелал всем участникам Российской Промышленной Недели плодотворной работы и весомых практических результатов.

С приветственным словом в адрес участников выставки MetrolExpo выступили Вице-президент Метрологической академии Владимир Николаевич Крутиков, И.о. Генерального директора ФГБУ «Российский институт стандартизации» Константин Владимирович Леонидов, Руководитель направления оценки качества продукции и технологий Департамента стандартизации Фонда инфраструктурных и образовательных программ Группы РОСНАНО Юрий Александрович Торопов, Профессор Кафедры Биомедицинские технические системы ФГБОУ ВО «МГТУ им. Н.Э. Баумана» Наталья Павловна Муравская, Руководитель дирекции выставки MetrolExpo Игорь Геннадьевич Зимин.

В рамках выставки 18 и 19 октября прошла насыщенная деловая программа, объединенная в 4 тематических секции:
- Метрологическое обеспечение, средства измерения и профессиональные компетенции – база обеспечения качества продукции машиностроения;
- Обеспечение единства измерений в радиоэлектронике;
- Современные контрольно-измерительные технологии - гарант достижения высоких показателей качества и точности измерений;
- Цифровая платформа. Метрология и метрологическое обеспечение 4.0.

Доклады и презентации, представленные на деловой программе, вызвали большой интерес среди посетителей и участников выставки. В конференц-зале постоянно присутствовало от 40 до 70 человек.

Модераторами секций выступили ведущие специалисты профильных научно-исследовательских и испытательных центров:
- Петроневич Василий Васильевич - д.т.н., доцент, заведующий кафедрой, начальник НИО-7, Главный метролог ФГУП «ЦАГИ»;
- Бордуков Андрей Алексеевич - начальник лаборатории (ЦУКМиИИС) АО «ЛИИ имени М.М. Громова»;
- Пронякин Владимир Ильич - д.т.н., профессор, зав. кафедрой «Метрология и взаимозаменяемость» ФГБОУ ВО «МГТУ им. Н.Э. Баумана»;
- Мастеренко Дмитрий Александрович - д.т.н., профессор, зам. заведующего кафедрой «Измерительные информационные системы и технологии» ФГБОУ ВО МГТУ «СТАНКИН»;
- Злобин Игорь Сергеевич – начальник управления испытаний ЭКБ и РЭА ФГУП «МНИИРИП»;
- Голыгин Николай Христофорович - к.т.н., доцент ФГБОУ ВО «МИИГАиК»;
- Серков Николай Алексеевич - д.т.н., ведущий научный сотрудник ФГБУН ИМАШ РАН и другие.

Таким образом, участие в мероприятии, в том числе с выставочным стендом, открывает для компаний широкие возможности для эффективной презентации своей продукции, поиска новых клиентов и укрепления деловых связей.

Фотоотчёт о выставке можно посмотреть по ссылке.

Подробнее о выставке можно ознакомиться на официальном сайте www.metrol.expoprom.ru, по телефону +7 (495) 937-40-23 или электронной почте metrol@expoprom.ru.

Новости
Авторам и подписчикам журнала «Нано- и микросистемная техника»
Журнал НМСТ включен в Web of Science
Новые проекты российских предприятий в области создания компонентов и модулей СВЧ-электроники
Победители и призеры премии Electronica-2024 в области создания технологического и контрольно-измерительного оборудования
Точные измерения - основа качества и безопасности / MetrolExpo-2024
Статьи из журнала НМСТ опубликованы на английском языке
ПРЕДКОНФЕРЕНЦИИ РОССИЙСКОГО ФОРУМА «МИКРОЭЛЕКТРОНИКА 2023»
Учёт опубликованных в журнале «Нано- и микросистемная техника» статей в Минобрнауки России в отчете публикаций за 2022 г.
Журнал НМСТ включен в Перечень ВАК - 2022
Вебинар: Проектирование МЭМС-акселерометра с использованием CoventorMP
<-- Архив новостей -->

Конференции
Более 150 отечественных производителей представят новейшие разработки на выставке-форуме «Электроника России»-2024.
Юбилейный Российский форум «Микроэлектроника 2024»: 10 лет развития и успеха!
Итоги российского форума «Микроэлектроника 2023»
Выставка "Навигация и связь в особых условиях", г. Москва, Конгресс-центр
Российский форум «Микроэлектроника» - межотраслевая площадка для общения специалистов в области разработки, поставки и применения ЭКБ и РЭС
II Специализированная выставка "Навигация и связь в особых условиях"
Пост-релиз Выставки "Навигация и связь в особых условиях"
Итоговый пресс-релиз Выставки "Навигация и связь в особых условиях"
Деловая программа выставки "Навигация и связь в особых условиях"
Деловая программа выставки "Навигация и связь в особых условиях"
Добро пожаловать на выставку "Навигация и связь в особых условиях"
Итоги российского форума «Микроэлектроника 2022»
ХI всероссийская научно-техническая конференция «ЭКБ-2022»
Сформирована программа второго дня пленарной работы форума. Одна из тем пленарного заседания - «Доверенность ЭКБ и РЭА – тема для спекуляций или объективный вызов?»
В сентябре 2022 года состоятся две предконференции Российского форума «Микроэлектроника 2022»
Стали известны подробности Архитектуры и программы Российского форума «Микроэлектроника 2022»
Российский форум «Микроэлектроника 2022»: время перемен – пора новых возможностей
<-- Архив конференций -->

Российская академия наук




  © 1999-2024 "Нано - и микросистемная техника".